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可同時檢測反射率和透射率的薄膜測厚技術

發布時間:2022-04-26 點擊量:765

可同時檢測反射率和透射率的薄膜測厚技術

F10-RT 是一款緊湊型桌面測量系統,集成了測量單元和測量臺。可同時測量反射率和透射率,輕松分析膜厚、折射率和消光系數。

只需一根 USB 線和電源線即可輕松連接,無需調整光學系統即可進行復雜設置,而且設置非常簡單。

要特點

  • 緊湊型桌面測量系統,集成測量單元和測量臺
    光譜范圍廣,可選擇多種光源

  • 可同時測量反射率和透射率,并具有膜厚、折射率和消光系數分析功能,
    同時用標準維護相機記錄測量位置。

  • 放個樣品就好了。無需調整光學系統,設置非常簡單

主要用途

平板聚酰亞胺、ITO、抗蝕劑、氧化膜、增透膜、PET、玻璃基板上的各種光學薄膜
光學鍍膜玻璃、眼鏡、鏡片等的硬涂層。
薄膜太陽能電池CdTe、CIGS、非晶硅等

測量示例

用于平板的透明電極ITO的膜厚和折射率的測量實例
同時測量反射率和透射率。薄膜厚度分析 FIL Measure 軟件即時分析薄膜厚度、折射率等。