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電子元器件散熱材料評價(jià)設(shè)備-日本熱波分析儀 TA
熱擴(kuò)散率的非接觸式測量可在從有機(jī)薄膜到鉆石的廣泛范圍內(nèi)進(jìn)行評估
熱物性測量范圍
可以進(jìn)行從有機(jī)薄膜到鉆石的各種測量。此外,還可以測量難以測量的高導(dǎo)熱樹脂。我們還處理雙層樣品和難以處理的物體的測量。
| TA35 | TA33 | TA32 | TA31 | |
測量對象 | 熱擴(kuò)散率 | ||||
測量范圍 | 0.1 至 1000 [× 10 -6 m 2 s -1 ] | ||||
輸出數(shù)據(jù) | 頻率、距離、幅度、相位、厚度【TXT格式】 | ||||
測量模式 | 垂直方向 | ○ | ○ | —— | ○ |
水平方向 | ○ | ○ | ○ | —— | |
分布測量 | ○ | —— | —— | —— | |
附其他 | 調(diào)溫加熱器 | 選項(xiàng) | 選項(xiàng) | —— | —— |
調(diào)焦 | 汽車 | 汽車 | 手動(dòng)的 | 手動(dòng)的 | |
控制/分析軟件 | ○ | ○ | ○ | ○ | |
個(gè)人電腦 | ○ | ○ | ○ | ○ | |
測量環(huán)境 | 測量溫度 | 室內(nèi)溫度 | |||
測量溫度(配備加熱器時(shí)) | 室溫~300[℃] | —— | |||
測量頻率 | 0.01 [Hz] ~ 100 [kHz] | ||||
半導(dǎo)體激光器 | 波長 | 808 [納米] | |||
最大輸出 | 1.5 [W] | ||||
輻射溫度計(jì) | 元素 | 銻化鎵 | |||
冷卻方式 | 液氮 | ||||
舞臺(tái)活動(dòng)區(qū) | 檢測階段 | ± 5 [毫米] | ± 5 [毫米] | ± 5 [毫米] | —— |
樣品臺(tái) | ± 10 [毫米] | —— | —— | —— | |
重復(fù)精度 | ± 5 [%] | ||||
電源供應(yīng) | AC100-240 [V], 10-5 [A], 50/60 [Hz] | ||||
激光安全 | I 類激光產(chǎn)品 |